Контроль фотошаблонов

Системы Phiplastic автоматизируют оптический контроль топологии и выявляют не только отличия фотошаблона от эталона, но и нарушения допусков на самом эталоне (design rule check, DRC). Верификация топологии выполняется автоматически, обнаруженные дефекты предъявляются пользователю для окончательного принятия решения.

При контроле фотошаблонов обычно имеют место повышенные требования к точности. Система Phiplastic может использовать самые высокие уровни разрешения современных планшетных сканеров (порядка 5 мкм на пиксел) и позволяет работать с огромными растровыми изображениями. Более того, контроль изделий может выполняться по частям (с перекрытием) без ущерба для полноты и достоверности. Это может пригодиться, если фотошаблон не помещается на сканере целиком, либо размер изображений становится слишком большим для используемого компьютера и операционной системы.

Нарушение допуска на зазор
Неверный размер контактной площадки

Планшетные сканеры, как и любое другое оборудование, имеют погрешности. Для задач контроля фотошаблонов это означает, что геометрия получаемого изображения может отличаться от геометрии сканируемого изделия. В системе Phiplastic предусмотрена специальная процедура геометрической калибровки, гарантирующая точность измеряемых размеров и расстояний, а также надежное распознавание дефектов растяжения и усадки пленки.

Для контроля фотошаблонов рекомендуется использовать решение Inspection, но при жестких финансовых лимитах можно ограничиться решением Gold. От этого выбора зависит перечень автоматически обнаруживаемых дефектов, что, в конечном итоге, определяет производительность системы и влияние человеческого фактора.

См. также: другие стадии производства печатных плат, на которых применяются системы Phiplastic.